德國(guó)Fischer X-Ray熒光射線測(cè)厚儀使用指南

   以下為我司為客戶現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)圖：

臺(tái)式測(cè)量?jī)x器

FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

德國(guó)Fischer X-Ray熒光射線測(cè)厚儀使用指南

XAN

用于快速、地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、地測(cè)量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

XDL / XDLM / XDAL

功能*：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試，是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

XUV

X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。